2026.09.08
半導體材料

【一顆晶片,是怎麼被化學品一層一層做出來的?】

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一顆晶片,是怎麼被化學品一層一層做出來的?

微小的化學,推動更大的未來 | 半導體製程 × 化學品應用深度解析

半導體製造不只是曝光機、蝕刻機與鍍膜設備的集合。

從晶圓表面清洗、薄膜沉積、黃光微影,到金屬互連、CMP 與先進封裝,幾乎每一個步驟,都需要不同純度與功能的化學品參與。

其中,隨著元件結構走向 FinFET、GAA、3D NAND 與高深寬比結構,能夠進行原子級膜厚控制的:

Atomic Layer Deposition|ALD|原子層沉積

也成為先進半導體製程的重要技術。以下一次看懂 8 大製程與常見化學品。

① Wafer Cleaning|晶圓清洗

■ 去除污染・展現潔淨表面

晶圓進入製程前,必須先去除表面的有機物、微粒、金屬離子與自然氧化層。這些化學品可組成 SPM、SC-1、SC-2、DHF 等清洗系統,分別處理有機污染、微粒、金屬離子及氧化層。

✓ Sulfuric Acid|硫酸 CAS No.:7664-93-9
✓ Hydrogen Peroxide|過氧化氫 CAS No.:7722-84-1
✓ Ammonium Hydroxide|氨水 CAS No.:1336-21-6
✓ Hydrochloric Acid|鹽酸 CAS No.:7647-01-0
✓ Hydrofluoric Acid|氫氟酸 CAS No.:7664-39-3
✓ Isopropyl Alcohol|異丙醇 CAS No.:67-63-0

② Thin Film Deposition|薄膜沉積

■ CVD・PVD・ALD 多層薄膜堆疊

晶片是由多層導電膜、介電膜、阻障層與功能材料堆疊而成,常見沉積技術包括:

  • CVD|化學氣相沉積
  • PVD|物理氣相沉積
  • ALD|原子層沉積

常見化學品與前驅物包括:

✓ Silane|矽烷 CAS No.:7803-62-5
✓ TEOS|正矽酸四乙酯 CAS No.:78-10-4
✓ Ammonia|氨 CAS No.:7664-41-7
✓ Tungsten Hexafluoride|六氟化鎢 CAS No.:7783-82-6
✓ Titanium Tetrachloride|四氯化鈦 CAS No.:7550-45-0
✓ Trimethylaluminum|三甲基鋁 CAS No.:75-24-1

■ ALD 為什麼特別重要?

ALD 利用兩種或多種前驅物依序進入反應腔體,讓材料在表面發生具有自限性的反應。它不是一次沉積很厚,而是:

前驅物 A → 吹掃 → 前驅物 B → 吹掃

透過循環反應,將薄膜逐層堆疊。

常見 ALD 前驅物與反應物包括:

• Trimethylaluminum, TMA CAS No.:75-24-1
• Titanium Tetrachloride, TiCl₄ CAS No.:7550-45-0
• Hafnium Tetrachloride, HfCl₄ CAS No.:13499-05-3
• Water, H₂O CAS No.:7732-18-5
• Ozone, O₃ CAS No.:10028-15-6
• Ammonia, NH₃ CAS No.:7664-41-7

例如 TMA 搭配水或臭氧,可用於形成 Al₂O₃ 薄膜;HfCl₄ 等含鉿前驅物則可用於製備高介電常數材料。

ALD 的優勢在於:膜厚控制精準、均勻性高、步階覆蓋性佳,適合奈米結構與高深寬比孔洞。

③ Photolithography|黃光微影

■ 光刻未來・精準轉寫電路

黃光製程負責把電路圖形轉移到晶圓表面,主要步驟包括表面處理、塗布光阻、軟烤、曝光、顯影與去除光阻。HMDS 可改善光阻附著性;PGME/PGMEA 常用於光阻與清洗配方;TMAH 則是常見顯影液成分。

✓ HMDS|六甲基二矽氮烷 CAS No.:999-97-3
✓ PGME|丙二醇甲醚 CAS No.:107-98-2
✓ PGMEA|丙二醇甲醚醋酸酯 CAS No.:108-65-6
✓ TMAH|四甲基氫氧化銨 CAS No.:75-59-2
✓ NMP|N-甲基吡咯烷酮 CAS No.:872-50-4

④ Etching|蝕刻

■ 選擇性移除・雕刻奈米結構

曝光與顯影完成後,需要將未受光阻保護的材料選擇性移除,形成線路、溝槽與孔洞。

乾式蝕刻常見:

✓ Carbon Tetrafluoride, CF₄ CAS No.:75-73-0
✓ Trifluoromethane, CHF₃ CAS No.:75-46-7
✓ Sulfur Hexafluoride, SF₆ CAS No.:2551-62-4
✓ Chlorine, Cl₂ CAS No.:7782-50-5
✓ Hydrogen Bromide, HBr CAS No.:10035-10-6
✓ Boron Trichloride, BCl₃ CAS No.:10294-34-5

濕式蝕刻則可能使用:

✓ Hydrofluoric Acid|氫氟酸 CAS No.:7664-39-3
✓ Phosphoric Acid|磷酸 CAS No.:7664-38-2
✓ Nitric Acid|硝酸 CAS No.:7697-37-2
✓ Potassium Hydroxide|氫氧化鉀 CAS No.:1310-58-3
✓ TMAH|四甲基氫氧化銨 CAS No.:75-59-2

⑤ Doping & Ion Implantation|摻雜與離子植入

■ 引入雜質・調控電性表現

純矽本身的導電能力有限,因此需要導入硼、磷、砷等元素,形成 P 型或 N 型半導體區域。這些物質多具有高度毒性或反應性,必須搭配嚴格的氣體供應、洩漏偵測與安全管理系統。

✓ Diborane, B₂H₆|乙硼烷 CAS No.:19287-45-7
✓ Boron Trifluoride, BF₃|三氟化硼 CAS No.:7637-07-2
✓ Phosphine, PH₃|磷化氫 CAS No.:7803-51-2
✓ Phosphorus Oxychloride, POCl₃|三氯氧磷 CAS No.:10025-87-3
✓ Arsine, AsH₃|砷化氫 CAS No.:7784-42-1

⑥ Metallization & Electroplating|金屬互連與電鍍

■ 連結晶片世界・成就高速傳輸

電晶體完成後,需要利用銅、鋁、鎢等材料建立導電線路,把數十億個元件彼此連接。

銅電鍍除了銅離子來源,電鍍液還需要加速劑、抑制劑、整平劑與潤濕劑,才能控制 Via 與溝槽內的銅沉積形貌。

✓ Copper Sulfate Pentahydrate|五水硫酸銅 CAS No.:7758-99-8
✓ Sulfuric Acid|硫酸 CAS No.:7664-93-9
✓ Hydrochloric Acid|鹽酸 CAS No.:7647-01-0
✓ Polyethylene Glycol, PEG|聚乙二醇 CAS No.:25322-68-3
✓ SPS|聚二硫二丙烷磺酸鈉 CAS No.:27206-35-5

⑦ CMP|Chemical Mechanical Planarization|化學機械研磨

■ 化學 × 機械・實現全域平坦

每完成一層結構後,晶圓表面可能出現高低差。CMP 結合化學反應與機械研磨,使表面重新平坦,才能繼續進行下一層製程。

CMP Slurry 不只是研磨粉體,還可能包含氧化劑、錯合劑、腐蝕抑制劑、界面活性劑及 pH 調整劑。

✓ Silicon Dioxide|二氧化矽 CAS No.:7631-86-9
✓ Aluminum Oxide|氧化鋁 CAS No.:1344-28-1
✓ Cerium Oxide|氧化鈰 CAS No.:1306-38-3
✓ Hydrogen Peroxide|過氧化氫 CAS No.:7722-84-1
✓ Glycine|甘胺酸 CAS No.:56-40-6
✓ Benzotriazole, BTA|苯并三唑 CAS No.:95-14-7

⑧ Advanced Packaging|先進封裝

■ 封裝創新・延伸晶片價值

晶片完成後,還需要經過凸塊、RDL 再佈線、晶片接合、底部填充與封裝保護。

PI、PBO、乾膜光阻、底部填充膠、助焊劑與環氧封裝材料,多半是由多種樹脂、溶劑、填料與添加劑組成的複合配方,因此不一定只有一個 CAS No.。常見材料包括:

✓ Methanesulfonic Acid|甲磺酸 CAS No.:75-75-2
✓ Tin(II) Methanesulfonate|甲磺酸亞錫 CAS No.:53408-94-9
✓ Rosin|松香 CAS No.:8050-09-7
✓ Bisphenol A Epoxy Resin|雙酚 A 型環氧樹脂 CAS No.:25068-38-6
✓ Dicyandiamide|雙氰胺 CAS No.:461-58-5
✓ Silicon Dioxide|二氧化矽填料 CAS No.:7631-86-9

■ 一句話理解:

設備決定製程可以做到多精密,化學品則決定每一個步驟能不能穩定重現。

在奈米尺度下,化學品管理的不只是純度,還包括:

金屬離子、微粒、水分、酸鹼度、批次一致性、保存條件與供應穩定性。

微量污染或配方波動,都可能影響晶圓良率與元件可靠度。

景明化工 ECHO Chemical

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